ไมโครสโคปเลเซอร์สแกน

เลเซอร์สแกนไมโครสโคปแบบ 3D VK-X4000 ซีรีส์ ได้ผสานขั้นตอนของระบบเลเซอร์คอนโฟคอล การแทรกสอดแสงสีขาว และการเปลี่ยนแปลงจุดโฟกัสไว้ในการตรวจวัดเพียงระบบเดียว จึงสามารถตรวจวัดวัสดุและรูปร่างของพื้นผิวได้แทบทุกชนิดด้วยความแม่นยำสูงโดยไร้การสัมผัส ฟังก์ชันการวัดหลายจุดที่พัฒนาขึ้นใหม่จะช่วยเพิ่มประสิทธิภาพให้กับกระบวนการวิเคราะห์โดยการตรวจวัดอัตโนมัติจากตัวอย่างหลายชนิดและหลายตำแหน่ง ซึ่งจะช่วยลดความยุ่งยากในการตั้งค่าหรือการเขียนโปรแกรม ทั้งยังเพิ่มความสะดวกในการใช้งาน ประสิทธิภาพ และความแม่นยำของอัตราการทำซ้ำ

แคตตาล็อก ขอราคา