ข้อมูลจำเพาะ: หัวเลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์ ระยะไกล/ความแม่นยำสูง: LK-G ซีรี่ส์

เลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์แบบ CCD รุ่น LK-G ซีรี่ส์

การสนับสนุนและบริการ

เครื่องวัดในราคาที่สามารถซื้อหาได้และไว้วางใจได้ 100% สำหรับโรงงานผลิตเหล็ก

เซ็นเซอร์การวัดแบบไม่สัมผัสในการลดเศษวัสดุ ช่วยให้สามารถทำการตรวจสอบ 100% ได้

ข้อมูลจำเพาะ


ประสิทธิภาพดีที่สุดในเครื่องระดับเดียวกัน ดูข้อมูลสนับสนุนได้จากข้อมูลจำเพาะของคุณสมบัติที่ดีเยี่ยม
โปรดใช้เมนูแบบพูลดาวน์ของฝ่ายบริการข้างต้น เพื่อดาวน์โหลดแคตตาล็อกผลิตภัณฑ์ หากต้องการรายละเอียดที่ครบถ้วนสมบูรณ์

รุ่นต่างๆ ของหัวเซนเซอร์ LK-G ซีรี่ส์

ข้อมูลจำเพาะของหัวเลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์ LK-G ซีรี่ส์

ข้อมูลจำเพาะของหัวเลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์ระยะไกล/ความแม่นยำสูง LK ซีรี่ส์

1. ค่าดังกล่าววัดจากชิ้นงานมาตรฐาน (เซรามิค) ของ KEYENCE
LK-G10/G15: เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 20 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น +0.37 (ด้านไกล) ถึง -1 มม. (ด้านใกล้)
LK-G32/G37: เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 20 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น +1.8 (ด้านไกล) ถึง -5 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ diffuse reflection, และ +1.6 (ด้านไกล) ถึง -4.5 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ Specular Reflection
2. ค่าดังกล่าววัดจากชิ้นงานมาตรฐาน (เซรามิค) ของ KEYENCE โดยใช้โหมดมาตรฐาน
3. ค่าดังกล่าววัดด้วยมาตรฐาน (SUS) ของ KEYENCE ด้วยค่าเฉลี่ยจากการวัด 4096 ครั้งที่ระยะอ้างอิง ค่าในวงเล็บคือลิเนียริตี้มาตรฐานที่ได้จากการวัดชิ้นงานด้วย 16384

ข้อมูลจำเพาะของหัวเลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์ LK-G ซีรี่ส์

1. ค่าดังกล่าววัดจากชิ้นงานมาตรฐาน (เซรามิค) ของ KEYENCE
LK-G82/G87: เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 20 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น -9 (ด้านใกล้) ถึง -15 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ diffuse reflection, และ -8.7 (ด้านใกล้) ถึง -14 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ specular reflection
LK-G152/G157: เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 20 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น -22 (ด้านใกล้) ถึง -40 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ diffuse reflection, และ -22 (ด้านใกล้) ถึง -39 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ specular reflection
2. ค่าดังกล่าววัดจากชิ้นงานมาตรฐาน (เซรามิค) ของ KEYENCE โดยใช้โหมดมาตรฐาน
3. ค่าดังกล่าววัดด้วยมาตรฐาน (SUS) ของ KEYENCE ด้วยค่าเฉลี่ยจากการวัด 4096 ครั้งที่ระยะอ้างอิง

หัวเซนเซอร์ LK-G ซีรี่ส์

1. ค่าดังกล่าววัดจากชิ้นงานมาตรฐาน (เซรามิค) ของ KEYENCE
(LK-G407/LK-G402)
เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 20 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น -70 (ด้านใกล้) ถึง -100 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ diffuse reflection เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 20 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น -70 (ด้านใกล้) ถึง -99 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ specular reflection
(LK-G507/LK-G502)
เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 20 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น -230 (ด้านใกล้) ถึง -250 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ diffuse reflection เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 20 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น -230 (ด้านใกล้) ถึง -249 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ specular reflection เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 50 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น -125 (ด้านใกล้) ถึง -250 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ diffuse reflection เมื่ออัตราการสุ่มตัวอย่างอยู่ที่ 50 μs, ค่าดังกล่าวจะเป็น -125 (ด้านใกล้) ถึง -249 มม. (ด้านใกล้) สำหรับ specular reflection
2. ค่าดังกล่าววัดจากชิ้นงานมาตรฐาน (เซรามิค) ของ KEYENCE โดยใช้โหมดมาตรฐาน
3. ค่าดังกล่าววัดด้วยมาตรฐาน (SUS) ของ KEYENCE ด้วยค่าเฉลี่ยจากการวัด 4096 ครั้งที่ระยะอ้างอิง
4. ค่าทั้งหมดคำนวณที่ F.S. = ±250 มม.
5. “ระยะความแม่นยำสูง” และ “ระยะไกล” หมายถึงค่าลิเนียริตี้ (Linearity) เมื่อใช้ระยะเหล่านั้น

คำเตือน

ผลิตภัณฑ์ LK-G ซีรี่ส์มีคุณสมบัติตามมาตรฐาน FDA และ IEC ดังนี้:

ประสิทธิภาพดีที่สุดในเครื่องระดับเดียวกัน ดูข้อมูลสนับสนุนได้จากข้อมูลจำเพาะของคุณสมบัติที่ดีเยี่ยม

เลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์