 เลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์ |
|
 |
|
|
|
| • |
สามารถวัดจุดต่างๆ ได้พร้อมกันถึง 8 จุด |
| • |
อิมเมจเซนเซอร์ E3-CMOS ช่วยให้การวัดมีเสถียรภาพ |
| • |
ระบบควอโตรลิงค์ (Quatro link) ช่วยให้สุ่มตัวอย่างด้วยความเร็วถึง 3.8 มิลลิวินาที ซึ่งเป็นความเร็วสูงสุดในเครื่องระดับเดียวกัน |
| • |
สุ่มตัวอย่างด้วยความเร็วสูงถึง 3.8 มิลลิวินาที, ความแม่นยำสูงถึง ±0.1% ของ F.S. |
| • |
เมนูการตั้งค่าตัวอย่าง (รายแรกในเครื่องระดับเดียวกัน) |
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
|
|
|
| • |
เร็วที่สุดในโลก: 392kHz |
| • |
ความแม่นยำสูงสุดในระดับเดียวกัน: ±0.02% |
| • |
อัตราการทำซ้ำสูงสุดในระดับเดียวกัน: 0.005μm |
| • |
ระบบควบคุม "ABLE II" ที่พัฒนาขึ้นใหม่ล่าสุด |
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
|
|
|
| • |
อัตราการสุ่มตัวอย่างขนาด 50 kHz ที่มีความเร็วสูงอันดับต้นๆ ของโลก |
| • |
ความแม่นยำมากที่สุดในวงการอุตสาหกรรมที่ ±0.02% (LK-G10/15) |
| • |
อัตรการทำซ้ำสูงสุดในเครื่องระดับเดียวกันที่ 0.0004 Mil (0.01 µm) |
| • |
คอนโทรลเลอร์แบบหลายฟังก์ชัน |
| • |
ซอฟต์แวร์ทำงานด้วยเมนูที่ใช้งานง่าย |
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
|
|
|
| • |
วิธีการสแกนพื้นผิวที่มีความแม่นยำสูง |
| • |
ความละเอียดดีเยี่ยมขนาด 0.0004 Mil (0.01 µm) |
| • |
ฟังก์ชันการตั้งค่าที่ใช้งานได้รวดเร็วและง่ายดาย |
| • |
โหมดการวัดหลายโหมดสำหรับประยุกต์ใช้งานได้หลากหลาย |
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
|
|
|
| • |
ระบบ “การวัดแบบแอคทีฟคอนโฟคอล” ขั้นสูง |
| • |
ลำแสงขนาด 2 µm (0.08 Mil) |
| • |
ความละเอียด 0.01 µm (0.0004 Mil) |
| • |
ลิเนียริตี้ (Linearity) ±0.5% ของ F.S. |
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
|
|
|
| • |
ลิเนียริตี้ (Linearity) ±0.1% ของ F.S. (ทุกรุ่น) |
| • |
ระยะการวัดไกลพิเศษ |
| • |
สี ลักษณะพื้นผิว หรือแสงแวดล้อมไม่มีผลต่อการวัด |
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
|
|
|
| • |
เลนส์กระจกแบบ Aspherical ช่วยลดความเบี่ยงเบนของแสง |
| • |
ระยะการวัด 400 มม. |
| • |
วัดชิ้นงานโลหะและชิ้นงานที่มีสีดำด้วยความแม่นยำสูง |
| • |
ระบบควบคุม ARC |
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
|
|
|
| • |
Linearizer แบบหลายจุดระบบดิจิตอล |
| • |
ฟิลเตอร์กรองความถี่สูงและต่ำ |
| • |
มีโหมดการวัดที่แตกต่างกันถึง 10 โหมด |
| • |
อินเตอร์เฟซ RS-232 (RD-50R) |
|
|
|
|
|
